• Opis izdelka

  • Visoko natančen instrument je namenjen nedestruktivnemu merjenju debeline površinskih nanosov na feromagnetnih in neferomagnetnih kovinah.
  • Naprava samodejno prepozna vrsto osnovnega materiala in izbere ustrezno merilno metodo.
  • Vgrajen algoritem omogoča izvedbo enotočkovnih meritev in napredno večtočkovno povprečenje rezultatov.
  • Barvni TFT zaslon z diagonalo 2 palca se samodejno obrača glede na položaj naprave za udobno branje podatkov.
  • Tribarvni LED-indikator skupaj z zvočnim alarmom takoj opozori, če so izmerjene vrednosti zunaj nastavljenih mej.
  • Notranji pomnilniški čip lahko shrani do 500 skupin izmerjenih podatkov za poznejšo analizo.
  • V kompletu je komunikacijska programska oprema za prenos in obdelavo izmerjenih rezultatov v računalniku prek USB vmesnika.
  • Način hitrega testa in visoka ločljivost naredijo ta merilnik idealno orodje za kontrolo kakovosti v avtomobilski in letalski industriji.
  • Kalibracijo naprave je mogoče izvesti s priloženimi kalibracijskimi ploščicami z metodo ničelne ali dvotočkovne kalibracije.
  • Tehnični parametri:
  • Merilno območje: naprava meri debelino sloja v širokem razponu od 0 do 1250 μm.
  • Natančnost: toleranca merjenja je določena na vrhunski ravni ± (3 % merjene vrednosti + 1 μm).
  • Ločljivost: za tanke sloje do 100 μm je ločljivost izjemno fina 0,1 μm.
  • Merilni načini: uporabnik lahko izbira med enkratnim ali kontinuiranim merjenjem z izračunom minimalnih, maksimalnih in povprečnih vrednosti.
  • Zaslon: kakovosten LCD zaslon z ločljivostjo 320 x 240 pik omogoča ročno nastavitev svetlosti.
  • Napajanje: delovanje zagotavljata dve standardni mikro bateriji tipa AAA (priloženi v paketu).
  • Varčevanje z energijo: funkcija samodejnega izklopa ščiti baterije pred nepotrebnim praznjenjem med neaktivnostjo.

  Kategorije izdelkov

  Delovni prostor, Dom in vrt, Električna orodja, Prosti čas

• Parametri

• Dokumenti za prenos

• Ocene in mnenja0

• Vprašanja o izdelku0

V košarico

Koda izdelka: TI0289